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Investigations on the Degradation of Different Gate Oxide Regions of SiC MOSFET Under Different Repetitive DC Bus Voltage
会员
会议论文
作者:
Xiaoqing Jia
,
Zhen XIN
,
Jianlong Kang
,
Hui Meng
页码:
909 - 913
Output Curves Based Hierarchical Clustering Screening Method With Static/Dynamic Current Balancing for Paralleled SiC MOSFETs
会员
期刊论文
作者:
Fujun Zheng
,
Hui Meng
,
Ze Zhou
,
He XU
,
Haoze Luo
,
Wuhua Li
页码:
257 - 300
An Online On-state Voltage Measurement Circuit With Controlled Current Source for Thyristors
会员
会议论文
作者:
Hui Meng
,
Letian Xiang
,
Luwei Zuo
,
Haoze Luo
,
Ankang Zhu
,
Zhen XIN
页码:
1968 - 1971
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