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A Novel Time-sharing Conduction Method for Improving SiC MOSFET Reliability
会员
会议论文
作者:
Yufeng Lan
,
Pengju Sun
,
Qiang Li
,
Yingpeng Hu
,
Xinbin Fang
,
Xing Ma
页码:
1922 - 1926
Gate-Oxide Degradation Monitoring of SiC MOSFET Based on the Third Quadrant Characteristics
会员
会议论文
作者:
Yinghui Yang
,
Kaiwei Li
,
Pengju Sun
,
Minghang Xie
,
Xing Ma
,
Wenyuan Ouyang
页码:
1938 - 1941
A Gate Voltage Clamping Method to Improve the Short-Circuit Characteristic of SiC MOSFET
会员
会议论文
作者:
Wenyuan Ouyang
,
Yingpeng Hu
,
Pengju Sun
,
Xing Ma
,
Minghang Xie
页码:
287 - 292
Reliability Estimation of Power Converter in the Energy Storage System
会员
会议论文
作者:
Jun Zhang
,
Xing Ma
,
Huixian Shen
,
Zhihuan Wang
页码:
1860 - 1863
Impact of Short-Circuit Events on the Threshold Voltage Instability of SiC MOSFETs
会员
会议论文
作者:
Kaiwei Li
,
Pengju Sun
,
Xing Ma
,
Xu Huang
,
Qiang Li
,
Lan Chen
页码:
1874 - 1878
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