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会员 基于SiC MOSFET的半桥LLC谐振变换器死区时间的研究
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  • 作者:
    黄建  , 何晓琼  
  • 页数:
    6
  • 页码:
    1774 - 1779
  • 资源:
  • 文件大小:
    0.65M
摘要
SiC MOSFET作为宽禁带的第三代半导体,不仅开关速度快而且开关特性好,把其用于变换器具有一定的高效性,而LLC谐振变换器作为高效的DC-DC变换器一直被广泛关注。现将SiC MOSFET用作半桥LLC谐振变换器的原边开关管,进一步提升变换器的效率。零电压开通能够降低损耗,提高半桥LLC谐振变换器的效率。本文分析死区时间对零电压开通的影响,并计算了临界死区时间。通过搭建双脉冲实验平台测试了SiC MOSFET的开关性能,通过搭建半桥LLC谐振变换器,设置不同的死区时间进行对比实验。实验结果表明,死区时间过大不能实现零电压开通。
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