半导体发光二极管（Light-Emitting-Diode, LED）具有效率高、寿命长等优点，准确的LED寿命和可靠性预测有利于进行合理的LED产品设计，减少成本，具有十分重要的意义。然而，目前存在的LED寿命数据多由LED器件商提供，且仅提供在特定工作条件下的寿命。但实际LED光源工作时的条件相差很大，且出现在标称寿命前失效等情况，而LED在实际运行条件下的寿命预测目前暂未有分析。针对此问题，本文提出了一种寿命预测方法，该方法充分考虑LED实际运行工况和由老化加速试验提供的特定运行环境下的寿命数据，采用Weibull分布等数学统计方法，合理预测LED真实寿命，其中，LED的电热特性均由T3Ster系统实验测量。通过该方法，可准确预测LED光源真实的寿命和可靠性水平，并可根据寿命和可靠性要求，合理设计散热器参数。