IGBT在关断过程中所发生的动态雪崩现象是导致其失效的重要原因之一。为研究IGBT动态雪崩失效机理，利用Silvaco软件对其进行仿真分析。通过对动态雪崩击穿机制、电流密度分布和温度分布的仿真分析，得出动态雪崩可以产生移动的电流丝和移动十分缓慢或固定不动的野死丝冶。引起器件失效的是动态雪崩形成的死丝， 死丝会导致IGBT内局部温度的急剧增加，最终因局部温度过高烧毁器件导致IGBT的失效。在此基础上分析了死丝产生的原因并进一步提出防止IGBT动态雪崩失效的具体措施。