软磁铁氧体因其具有电阻率高、可以抑制涡流损耗的特点，被广泛地应用在高频功率变换器的磁性元件上。随着半导体技术的不断发展和软开关技术的使用，磁性元件的损耗在开关电源中占有的比重越来越大。因此，在电源设计阶段能够准确地评估磁芯损耗对磁性元件的设计尤为重要，一方面可以避免由于设计不当造成的产品过热甚至烧机问题，另一方面也可以避免选型不当造成的材料浪费[1]。 影响磁芯损耗的因素有很多，工作频率、交流磁通密度、温度、励磁波形、直流偏磁等等。在交变磁场中，磁芯损耗(Pcv)由三部分组成，分别是磁滞损耗(Ph)、涡流损耗(Pe)和剩余损耗(Pc)[2]。文献[2]给出了正弦波形励磁下三部分损耗的计算公式，但是由于涉及的参数太多，厂商也无法提供，因此并不适合工程应用[2]。目前，设计人员最常使用的还是斯坦梅兹经验公式[3]： Pcv = Cm · f^α · Bm^β (1) 式中，f是工作频率，Bm是交流磁通密度。Cm是铁氧体材料系数，α和β分别是频率和磁通密度的指数，这三个参数由磁芯厂商提供。 但是斯坦梅兹经验公式只适合于正弦励磁下标环的磁芯损耗计算，用于评估磁芯材料的损耗特性。在实际的开关电源应用中，磁性元件的形状多种多样，励磁电压也通常都是占空比可调的矩形波[4][5]。占空比对磁芯损耗的影响往往不可忽略，磁芯损耗已不能用简单的斯坦梅兹公式去近似计算，否则会造成很大的偏差。更有甚者，当占空比在接近0或1的极端工作情况下，磁芯将会产生额外的损耗。研究极端占空比的电压励磁下的磁芯损耗分析方法具有重要的理论意义和工程价值。