交错拓扑能显著减少输入电流纹波，但GaN更高的工作频率以及BCM模式下变化的开关频率给主从相交错控制带来了较大的挑战。目前锁相环采用较多的方案是闭环控制，它可以实现主从相交错180°，但在主从相刚开驱动时，此时两相的开通相位是随机的，存在同相导致电流尖刺的风险以及锁相较慢的缺点。本文提出了两种新的锁相环方案，第一种采用预测开环控制与闭环控制相结合的方式，第二种采用从相延迟开通开环控制与闭环控制相结合的方式。开环控制主要用来使主从相刚开驱动时接近180°，闭环控制主要用来微调，保持主从相的相位在180°。实验结果表明采用新的两种锁相方案，可以大幅度减小主从相完成锁相180°的时间，该方案适用于不同功率等级的PFC拓扑。