双脉冲平台测试的精准性取决于测试平台的搭建和数据的后期处理。本文基于650V增强型GaN器件给出了平台关键元件的设计方法、测量仪器的选取依据及数据处理算法，减小了测试过程和数据处理的误差。最终研制了一台半桥式样机，基于样机测试了多组器件开关损耗，对器件的应用特性进行分析。