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会员 微晶面板导电性能与ESD测试失效案例分析
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  • 作者:
    万今明  , 曾子雄  , 黄敏超  
  • 页数:
    4
  • 页码:
    1280 - 1283
  • 资源:
  • 文件大小:
    1.45M
摘要
电磁炉上的微晶玻璃板,在使用万用表测试时电阻值为无穷大的绝缘体。本文采用非标准方法,对微晶玻璃板单独施加10kV的静电ESD放电电压,并利用示波器采集其瞬时放电波形,得知微晶玻璃板并非完全的绝缘体,在10kV静电放电时板体表面绝缘电阻上具有高达1.2kV左右的瞬时电压,因此在静电放电测试时,微晶玻璃板充当了共模干扰信号的“良导体”,把静电能量以传导耦合方式经过微晶板后干扰芯片电路,导致试验失效。本文通过在传导路径上采取针对性措施,解决了静电放电失效的问题。
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