高频化和小型化是宽禁带半导体器件功率变换器发展的趋势[1]，而其中磁性元件损耗的测量也是重中之重。针对高频激磁磁心损耗难以测量的问题，本文提出利用定标量热法测量1MHz频率正弦波激励下的磁心损耗。首先详细分析定标量热法的原理及误差来源并搭建了测量平台，在直流条件下对100mW~500mW定标并建立损耗-温升模型；然后用不同阻值的精密电阻验证了模型精度，并在1MHz频率正弦波激励下实验与验证精度；并实验验证定标量热法可精确测量1MHz频率正弦波激励下小损耗（100mW~500mW）。