电子设备的数字电路常受到电磁噪声干扰而失效，因此，有必要对不同电磁干扰下数字电路的失效机制进行研究。本文对电快速瞬变脉冲群和浪涌形成的混合干扰下数字电路失效行为特性进行测试分析。并创新性地提出一种适用于单一与混合干扰下的电路失效阈值评估方法。所提出的失效阈值评估方法基于芯片端口电压幅值和斜率乘积的，避免了电流测量的困难和准确性差的问题。本研究通过进行不同干扰下的测试，验证了此评估方法。该评估方法清晰地量化了电路在不同扰动下的失效机制，对数字电路的抗干扰定量设计具有重要意义。