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会员 基于开关电源桥式拓扑的功率驱动芯片2110可靠性提升研究
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  • 作者:
    史晨璐  , 樊经纬  , 鲁玲  
  • 页数:
    6
  • 页码:
    986 - 991
  • 资源:
  • 文件大小:
    0.75M
摘要
随着高压高速功率器件2110驱动芯片在全桥、半桥MOSFET的开关电源中的广泛应用,高低位驱动控制芯片2110异常损坏的现象也时有发生。本文主要针对功率驱动芯片2110使用中遇到的损坏故障,通过电路分析及搭建验证板,给出美国IR公司的IR2110及中国宇翔公司的BH2110D功率驱动芯片的推荐使用方法。
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