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会员 一种基于SC映射的E型和U型磁芯角域磁损估算模型
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  • 2024/01/01
  • 作者:
    王斌浩  , 杨得秋  , 张军明  
  • 页数:
    5
  • 页码:
    2384 - 2388
  • 资源:
  • 文件大小:
    0.62M
摘要
磁芯损耗在电力电子变换器的整体损耗中占了很大一部分,因此磁芯损耗的估计对于现在的电力电子器件设计非常重要。磁损的估计依赖于制造商提供的损耗密度信息和磁芯体积,但国际标准IEC 60205定义的U型和E型磁芯的有效尺寸不够准确,可能导致磁芯损耗计算出现错误。本文介绍了Schwarz–Christoffel(SC)映射方法,用于分析非环形磁芯(如E型磁芯和U型磁芯)中的磁场分布,从而为估算磁芯损耗提供更精确的模型。结果表明,拐角处的单位体积损耗是均匀分布磁场区域的0.55倍。不同尺寸比例磁芯的实验结果表明,所提模型的损耗估计更准确,误差小于5%。
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